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Geowiss. Untersuchungsmethoden für Schiefer

Mikroskopie

Bei der Untersuchung des Gefüges und der Mineralogie findet die Polarisationsmikroskopie Anwendung, die durch die Rasterelektronenmikroskopie (REM) erweitert werden kann.

Erst mit der Rasterlektronenmikroskopie ist eine vollständige Untersuchung des Gefüges im Mikrometerbereich sowie eine Unterscheidung zwischen Fließ- und Bruchschieferung möglich.

Bei der Untersuchung des Gefüges spielt die Schieferung eine zentrale Rolle. Bisher wurden in einem gegebenen mikroskopischen Bildausschnitt die Glimmerlagen gezählt: So wurde an der TU Bergakademie Freiberg ein Bildausschnitt von 0,2 mm gewählt und das Ergebnis auf 1 mm hochgerechnet. Obwohl von den verschiedenen Bearbeitern dieselbe Methode verwendet wurde, kam es zu Abweichungen. Einmal sind derartige mikroskopische Untersuchungen subjektiven Faktoren unterworfen, zum anderen potenzieren sich die Unterschiede beim Hochrechnen auf 1 mm. Zwar sichern Mehrfachzählungen die Resultate mehr oder weniger statistisch ab, verhindern aber nicht, daß Unterschiede zwischen den Ergebnissen der einzelnen Bearbeiter herrschen. Die Mikroskopie kann durch die digitale Bildanalyse erweitert werden. Auf die Bildanalyse selbst wird in einem gesonderten Abschnitt eingegangen.

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